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性能保持穩定、經久耐用的氮化矽探針 |
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奧林巴斯製造的氮化矽探針，以其著名的耐久性能最大限度地減少了因磨耗引起的原子力顯微鏡資料隨使用時間的變化。材料的特性選擇減少了針尖的磨耗，使其穩定性能得以長期發揮。除了最佳的外形設計，奧林巴斯以獨家技術對針尖進行了進一步的銳化處理。 |
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動態模式原子力顯微鏡專用低磨耗探針 |
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OMCL-HA100WS |
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本氮化矽測微懸臂用於動態模式，其楔形針尖經過銳化處理，因低磨耗設計而延長了使用年限。探針前端採用化學計量比的氮化矽，厚度為0.2um，具有優異的抗磨耗性能。有效探針長度為0.2~0.4um，最適於使用原子力顯微鏡對半導體薄膜等進行例行檢測。測定過程可使用尖銳化的楔形針尖兩個凸起部分（稱為雙針尖）中的一個。 |
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