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適用範圍
半接觸式、間歇接觸式
概述
旋轉的單晶矽探針,對稱針尖 支架尺寸:3.4×1.6×0.3 mm
塗層

無 [可以選擇 ]

技術數據
振動頻率300 kHz 力常數40 N/m
tp300  
 
afm

數值

變化範圍

振動頻率 

300 kHz

± 100 kHz

力常數 

40 N/m

20 N/m to 75 N/m

長度 

125 µm

± 10 µm

平均寬度

30 µm

± 5 µm

厚度 

4 µm

± 1 µm

針尖高度 

17 µm

± 2 µm

彎曲度

15 µm

± 5 µm

針尖半徑 

 < 10 nm

反射塗層 

 無

半圓錐角 

沿著懸臂軸為 20°-25°, 從側面看為 25° -30°, 在針尖部為 10°

 
 
AFM針尖

AFM 探針是微製造的單晶矽探針。 它具有優良的均勻度、銳針尖半徑。 我們能保證針尖半徑小於10nm,以便保證高分辨性和重現性。

這種對稱的針尖安裝在探針時產生“掃描傾斜角”效果,這能保證 200nm 以上的細節的更平衡成像。
AFM
AFM懸臂 AFM 懸臂是微製造的單晶矽懸臂。 它具有優良的均勻度。 本產品可以用於所有的標準原子力顯微鏡(AFM) 並保證優秀的成像。 afm
AFM支架 我們的 AFM 支架的尺寸符合產業標準,能適用於大部分的商業 AFM 。 它能配上 DI/Veeco AFM, TM Microscopes, JEOL, Molecular Imaging 和其他的商業 AFM。
 

 

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