cpth
 
jt
ft
english
  olympus
  divmoremore
  budget

 

tap_interm_cont_btn_over
 
force_mod_btn_over
 
cont_mode_btn_over
 
cond_afm_probes_btn_over
 
sini_afm_probes_btn_over
 
gold_coating_btn_over
 
tipcheck_btn_over
 
 
 
 
 
 
 
prod_header
 
 
budget
 
 
適用範圍
轻接触式
概述
4个SiNi氮化硅悬臂, 三角形的, 有两个不同的长短
支架尺寸:3.4×1.6×0.45 mm
塗層
70 nm 厚的金、铬涂层
技術數據
振动频率 30 kHz和 10 kHz
tp300  
 
afm
數值
變化範圍
 
長臂
短臂
 
振動頻率
30 kHz
10 kHz
-
力常數
0.27 N/m
0.06 N/m
-
長度
100 µm
200 µm
± 10 µm
寬度
16 µm
30 µm
± 5 µm
厚度
520 nm (450 nm SiNi + 70 nm 反射塗層 )

± 50 µm

針尖高度
12 µm (總共)
> 800 nm (有效)
± 2 µm
雙尖距離
4.5µm
± 0.5 µm
針尖半徑
15 µm
± 5µm
針尖半徑
< 20 nm
半圓錐角
35° (可見的)
反射塗層
70 nm 厚的金、鉻 反射塗層
懸臂彎角
< 3°
 
 
AFM probe
AFM針尖
氧化鋒利的楔形針尖具有兩個尖頂,這就叫“雙尖”針尖。懸臂裝成一定的角度(比如,13度),因此只有一個針尖接觸探測的表面——這能發生在探測的表面是足夠扁平的,凹處深度小於800 nm的條件之下。懸臂末端上的凸出部分就用於掃描成像。
AFM懸臂
SiNi (Si3N4)探針領有4個懸臂。懸臂的力常數很低,因此,拿這種懸臂用於很輕的接觸式,能保證優秀的成像。
AFM支架
AFM 支架的尺寸符合產業標準,能適用於大部分的商業的 AFM 。 它能用於 DI/Veeco AFM, TM Microscopes, JEOL, Molecular Imaging 和其他的商業的 AFM 。
probe
 

 

首頁 關於我們 産品展示 服務支持 聯繫我們   Copyright ©2006 Great Creative Technology International Limited