OMCL
测微悬臂系列
原子力显微镜探针
OMCL-AC160TS
OMCL-AC240TS
OMCL-AC240TM
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原子力显微镜探针
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Si/Ni氮化硅AFM探针
带金涂层AFM探针
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半接触式/间歇接触式用的AFM探针
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接触式用的AFM探针
导电AFM探针
SiNi氮化硅的AFM探针
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磁性AFM探针
TipCheck
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®
的AFM探针用于您AFM测量,绝对能保证测量的正确结果。探针是用单晶硅做的,能适用于大部分的商业AFM(
DI Nanoscope, PSI, JEOL
,…)。
从测量结果的精确度、匀称性、密度方面来说,
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的探针测量结果远超过别的商业SPM硅探针的测量结果。
从2006 年3 月我们还开始提供我公司第一个确立AFM探针之特性的校准标准——
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您可以试一试我们开始提供的
崭新的产品
, 包括:
新的
SiNi
— SiNi氮化硅AFM探针的改善样式
金涂层的
AFM
探针
— 6个不同产品的系列
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— 我公司确立AFM探针之特性的校准标准
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